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自動(dòng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x的十個(gè)特點(diǎn)和使用注意事項(xiàng)

時(shí)間:2021-08-05 點(diǎn)擊:953次

  自動(dòng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計(jì)、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示,具備機(jī)型小巧、操作簡(jiǎn)捷、待機(jī)時(shí)間長(zhǎng)等特點(diǎn);且具有自動(dòng)關(guān)機(jī)、欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能。它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
  自動(dòng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x的特點(diǎn):
  1、操作界面簡(jiǎn)單,測(cè)量方便,快捷 無(wú)損檢測(cè),在無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可準(zhǔn)確分析。
  2、鍍層測(cè)厚儀設(shè)置了自動(dòng)安全防護(hù)開(kāi)關(guān),以確保用戶(hù)安全使用。
  3、電控機(jī)蓋升降 采用*雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。
  4、外觀高貴大方,加大儀器內(nèi)部空間,儀器內(nèi)部通風(fēng)性?xún)?yōu),并有效屏蔽電磁干擾。
  5、客戶(hù)可根據(jù)自已的要求進(jìn)行二次開(kāi)發(fā),自行開(kāi)發(fā)任意多個(gè)分析方法。
  6、自動(dòng)譜線識(shí)別、多元素同時(shí)定性定量分析、讓用戶(hù)方便認(rèn)識(shí)分析樣品的組成。
  7、電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序,散熱更好,并能有效的延長(zhǎng)X光管的壽命。
  8、定量分析算法,包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、理論系數(shù)法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法等。
  9、同置高清晰攝像頭,可幫助客戶(hù)判斷測(cè)量的部位手動(dòng)精準(zhǔn)移動(dòng)平臺(tái),可輔助客戶(hù)微移產(chǎn)品。
  10、鍍層測(cè)厚儀采用127±5eV的高精度分辨率,保證數(shù)據(jù)測(cè)量的精度。
  自動(dòng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x的使用注意事項(xiàng):
  1、對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
  2、檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度。
  3、不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
  4、不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
  5、通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
  6、測(cè)量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

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