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接觸式薄膜測(cè)厚儀和非接觸式薄膜測(cè)厚儀的區(qū)別

時(shí)間:2020-07-16 點(diǎn)擊:1378次

    薄膜測(cè)厚儀,簡(jiǎn)單點(diǎn)來(lái)說(shuō)就是被使用來(lái)作材料厚度檢測(cè)的,主要被使用在塑料薄膜、金屬箔片等材料上,隨著行業(yè)需求的加深,薄膜測(cè)厚儀得到了快速發(fā)展,本文主要介紹接觸式薄膜測(cè)厚儀和非接觸式測(cè)厚儀的區(qū)別。

薄膜測(cè)厚儀

薄膜測(cè)厚儀

    什么是接觸式薄膜測(cè)厚儀?

    整個(gè)機(jī)體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)采用了機(jī)械接觸式測(cè)量方式,在標(biāo)準(zhǔn)配置上主要有主機(jī)、微型打印機(jī)以及通信電纜等相關(guān)設(shè)備,同時(shí)在符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上,遵守設(shè)備使用的規(guī)范性和準(zhǔn)確性,從而確保設(shè)備在使用過(guò)程中具備良好的測(cè)試性能。

    什么是非接觸式薄膜測(cè)厚儀?

    相對(duì)于接觸式測(cè)厚儀來(lái)說(shuō),非接觸式在兩個(gè)方面有一定優(yōu)勢(shì),一者是設(shè)備使用上,變得更加方便簡(jiǎn)單,被測(cè)物不需要直接觸碰監(jiān)測(cè)點(diǎn)就可以實(shí)現(xiàn)厚度測(cè)量,而不會(huì)影響到厚度測(cè)量值的準(zhǔn)確度。二者是誤差率的改善上,對(duì)一些容易形變的被測(cè)物,如紙張或者是薄膜在測(cè)試時(shí)所產(chǎn)生的誤差率影響將越來(lái)越低;

    兩者之間存在的區(qū)別:

    1、應(yīng)用范圍不同

    接觸式薄膜測(cè)厚儀在使用中主要是針對(duì)在符合量程范圍以內(nèi)的薄膜、隔膜以及紙張等非金屬材料實(shí)現(xiàn)厚度測(cè)量;而非接觸式薄膜測(cè)厚儀除了對(duì)非金屬材料實(shí)現(xiàn)厚度測(cè)量以外,同時(shí)還可以對(duì)金屬箔片實(shí)現(xiàn)測(cè)量,在應(yīng)用上更加具有廣泛性;

    2、測(cè)量原理不同

    接觸式薄膜測(cè)厚儀在使用中通過(guò)自動(dòng)和手動(dòng)的相互協(xié)助實(shí)現(xiàn)有效地控制,利用配置標(biāo)準(zhǔn)量塊起到的作用,確保測(cè)試數(shù)據(jù)的一致性。非接觸式測(cè)厚儀在其使用中,主要是利用激光傳感器實(shí)現(xiàn)厚度測(cè)量,將被測(cè)物放在兩個(gè)激光傳感器的中間,為避免測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)晃動(dòng),需要將傳感器固定在支架上,另外未確保測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,還需要檢查傳感器發(fā)出的激光是否對(duì)準(zhǔn)同一個(gè)點(diǎn),確認(rèn)檢查無(wú)誤之后,便可以采樣檢查.

    濟(jì)南眾測(cè)機(jī)電設(shè)備有限公司研發(fā)生產(chǎn)的薄膜測(cè)厚儀 THK-01屬于機(jī)械接觸式薄膜測(cè)厚儀,又稱為薄膜厚度測(cè)量?jī)x、紙張測(cè)厚儀,符合多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),廣泛應(yīng)用于塑料薄膜、薄片、紙張、橡膠、電池隔膜、箔片、無(wú)紡布、土工布、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。

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